IS 140是一款数字式、高精度的红外测温仪，可用于非接触式测量金属、非金属、石墨、陶瓷等各种材料的温度。I140红外测温仪具有非常好的测量精度和重复精度，配有三种光学镜头，具有非常有竞争力的光学系数比，测量距离远，光斑小，可以测量极小的目标物体。
0...20mA和4...20mA的模拟信号输出，用户可根据需要自由切换，RS232和RS485数字接口，可切换;通过数字接口连接电脑，采用|nfawin软件可以实时读取测混仪的测量温度和系统参数，还可以对系统参数进行设置和修改。如果需要，还可以选择Profibus-DP接口和PN接口。配置有液晶显示屏，可实时显示测量的温度;也可以通过液晶屏查看和修改配置参数。
可选测温范围:550-1400℃，600-1600℃，650-1800℃，750-2500℃，900-3300℃，550-1800℃，650-1400℃，750-3500℃，1100-3500℃，1000-2000℃:。
可选镜头:镜头1:测量距离130mm-200mm，光斑尺寸0.35mm-0.7mm镜头2:测量距离190mm-420mm，光斑尺寸0.5mm-1.3mm镜头3:测量距离340mm-4000mm，光斑尺寸0.9mm-15mm Weidmann光纤测温，科技助力，安全生产。河北光纤测温仪性价比高
IMPAC IS 320红外测温仪是一款短波、固定式红外测温仪，采用内部数字信号处理，主要用于测量金属、石墨、陶瓷、复合材料等各种材料的温度，广泛应用于感应加热、钢铁、锻造、轧钢、金属熔融、激光焊接、工业自动化设备等各种行业。
小巧的机身使其能够安装在小型生产设备上，坚固耐用的设计确保了恶劣工业环境现场应用中的稳定性。该测温仪有多种镜头可选，可以实现较小的光斑尺寸。
LED靶光可精确地瞄准测量物体，测量时会自动启动。除了模拟输出外，测温仪还配备了一个RS485数字接口，可确保数据通过长距离安全地传输至电脑或PLC控制器。随机配备的lInfraWin软件可显示图形与存储测量数据，并可对仪器的所有参数进行简便地设置 Weidmann光纤测温仪设置多样化型号，IMPAC满足多场景测温需求。
ISR6-TlAdvanced红外测温仪是一款集成比色(双色)红外测温仪和红外成像仪的测温和成像仪器;它能够精确测量视窗中心点的温度，并能够对视窗内的被测目标物体进行红外成像;它是在ISR6Advanced比色红外测温仪的基础上，集成了红外热成像仪，能够通过模拟视频信号输出接口，采用USB连接到电脑上，在Infrawin软件上形成红外热图像和温度信息，我们能够在红外图像中对感兴趣的ROI区域进行红外成像分析;可用于金属熔炼、真空炉、涂层、感应加热、玻璃行业、半导体行业等。
IPE140/39红外测温仪是IPE140的一款特殊版本，能够直接穿透火焰、、燃烧的气体或者玻璃，测量其后面的目标物体的温度;普通的红外测温仪如果碰到火焰、燃烧的气体或者玻璃是无法穿透的，只能测量火焰、燃烧的气体和玻璃表面的温度，无法测量得到背后目标物体的温度。还可以用于穿透玻璃测温，特别是需要测量玻璃内部的温度，该型号可以刚好稍稍穿透玻璃内部一点点，测量到玻璃内部的温度而不是玻璃表面的温度，因为暴露在外面的玻璃表面的温度并不是其真实的温度。该特殊型号与IPE140一样，具有140系列的所有功能和特性。
有三种镜头可以选择，可以实现极小的光斑尺寸，用于测量微小目标物体:镜头1:测量距离105mm-150mm;镜头2:测量距离200mm-440mm;镜头3:测量距离345mm-4300mm Weidmann测温仪，化工行业安心之选。
IPE140/34红外测温仪是PE140的一款特殊版本，专门为非接触式测量塑料薄膜的温度而设计，尤其是用来测量厚度大于30微米的极薄聚乙烯薄膜和聚丙烯薄膜。专门针对塑料薄膜测温而开发，测温范围和光学镜头都是专门优化的;使得该特殊型号的测温仪能够在3.43微米的极窄光谱范围内对测量目标辐射的红外能量探测，并实现塑料薄膜的精确测温。该特殊型号与IPE140一样，具有140系列的所有功能和特性。
可选镜头:镜头1:测量距离100mm-142mm;镜头2:测量距离185mm-390mm;镜头3:测量距离305mm-1900mms IMPAC技术先进，光纤测温稳定高效。在线式光纤测温仪设备
Weidmann测温新利器，光纤技术引航，测温无忧。河北光纤测温仪性价比高
UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率河北光纤测温仪性价比高
