测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。压片夹,反光镜,镜座,粗准焦螺旋,细准焦螺旋,镜臂,镜柱。泰州显微镜
其合成波振幅减小,光亮变暗;当一个光波恰好推迟半个波长时,则两个光波的振幅相抵消,产生相消干涉,成为黑暗状态。如果合成波的振幅比背景光的振幅大,则称为明反差(负反差);如果合成波的振幅比背景光的振幅小,则称为暗反差(正反差)。光线的相位差并不为肉眼所识别,通过光的干涉和衍射现象,相位差变成了振幅差,即明暗之差,肉眼因此得以识别。2.结构及性能与普通光学显微镜相比,相差显微镜在结构上进行了特别设计,用环状光阑代替可变光阑,用带相板的物镜代替普通物镜(图3-5)。相差板是安装在相差物镜后面的装置。相差板分为两部分,一是通过直射光的部分,叫共轭面,通常呈环状,另一部分是绕过衍射光的部分,叫补偿面,位于共轭面的内外两侧。相差板上装有吸收膜及推迟相位的相位膜。相差板除推迟直射光或衍射光的相位以外,还有吸收光量使光度发生变化的作用。环状光阑是由大小不同的环状孔形成的光阑,安装在聚光镜下面,光线只能通过环状光阑的透明部分射入。不同倍数的相差物镜要用相应的环状光阑。光线从聚光镜下的环状光阑的缝隙射入直射光,照射到被检物体上,产生直射光和衍射光两种光波。在物镜的后焦面上,设有相差板,直射光通过共轭面。镇江数码显微镜显微镜系统-欢迎咨询上海茂鑫!
透射电子显微镜TEM透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成:l电子.:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。
一、什么是金相显微镜?金相学是一种研究金属、矿石等内部结构的学科。故金相显微镜是以观测金属、合金、矿石等内部结构的显微镜,多用于半导体、电子、集成电路等的研究及检验。金相显微镜利用无穷远成像系统,成像清晰,采用平场消色差的物镜以及大视角目镜,金相显微镜具有良好的组织鉴别能力。二、金相显微镜怎么选?选择金相显微镜,成像的清晰度是关键。清晰的成像除了考虑高分辨率外,还需考虑色还原性能好、高亮度、高反差这三个方面。当然,除了性能方面,显微镜的材质、内部构造等都是决定显微镜耐久性的标志。研究型金相显微镜集无陌多项创造于一身,从外观到性能都紧跟国际设计风向,致力于拓展工业领域全新格局。秉承无陌不断探索不断超越的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。茂鑫提供系列立体显微镜及各种型号,立体显微镜价格,立体显微镜配件。
1.斥力模式原子力显微镜(AFM)微悬臂是原子力显微镜(AFM)关键组成部分之一,通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像,探针尖连续(接触模式)或间断(轻敲模式)与样品接触,并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时,它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动,就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜(AFM)设计可以有所不同,扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描,也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜(AFM)压电扫描器通常能在(x,y,z)三个方向上移动,由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同,扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm~125μm之间变化,垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜(AFM)微悬臂。茂鑫实业(上海)有限公司作为一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司,茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术,以满足客户的需求。选显微镜厂家,有品牌保证,用的放心-茂鑫显微镜供应。蚌埠莱卡显微镜
然这些物质也可用染色法来进行观察,但有些则不可用,而必须利用偏光显微镜。泰州显微镜
以及细菌、单细胞浮游生物、悬浮细胞等非常微小的生物体。(四)荧光显微镜荧光显微镜是利用一定波长的光使样品受到激发,产生不同颜色的荧光,用来观察和分辨样品中某些物质及其性质的一种显微镜。1.基本原理用于显微观察中的荧光可以分为自发荧光和继发荧光。自发荧光也称为原发荧光,它是指由一个物质的自然性质所产生的荧光,如叶绿素在可见光的激发下会产生红色荧光。继发荧光是由已经被结合到显微镜标本成分中的具有荧光性质的物质所产生的荧光,如细胞中的DNA经吖啶橙染色后,就可以发出黄绿色的荧光。荧光显微镜利用一个高发光效率的点光源,经过滤色系统,发出一定波长的光作为激发光,能激发标本的荧光物质使其发出一定的荧光,通过物镜和目镜的放大进行观察。在强烈的对衬背景下,即使荧光很微弱也容易清晰辨认,灵敏度高。2.结构及性能荧光显微镜和普通光学显微镜基本相同,主要区别是荧光显微镜具有荧光光源和滤色系统(图3-7)。荧光光源常用的有高压汞灯和氙灯。滤色系统由激发滤光片和阻断滤光片组成。激发滤光片放置于光源和物镜之间,其作用是选择激发光的波长范围。阻断滤光片是吸收和阻挡激发光进入目镜,防止激发光干扰荧光和损伤眼睛。泰州显微镜
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