茂鑫是一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司，茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术，以满足客户的需求。1.斥力模式原子力显微镜（AFM）微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接触，并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时，它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动，就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜（AFM）设计可以有所不同，扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描，也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜（AFM）压电扫描器通常能在（x,y,z）三个方向上移动，由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同，扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm～125μm之间变化，垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜（AFM）微悬臂。茂鑫提供系列立体显微镜及各种型号,立体显微镜价格,立体显微镜配件。宜昌偏光显微镜
▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源：公开资料5图像类别（1）明暗场衬度图像明场成像（Brightfieldimage）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像（Darkfieldimage）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（2）.辨TEM（HRTEM）图像HRTEM可以获得晶格条纹像（反映晶面间距信息）；结构像及单个原子像（反映晶体结构中原子或原子团配置情况）等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（3）电子衍射图像l选区衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:纳米级微小区域结构特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:纳米级微小区域结构特征。宜昌偏光显微镜而从四周射向标本的显微镜.荧光显微镜以紫外线为光源，使被照射的物体发出荧光的显微镜。
石棉显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等以及对图片进行输出、打印。合金的成分、热处理工艺、冷热加工工艺直接影响金属材料的内部组织、结构的变化，从而使机件的机械性能发生变化。因此用石棉显微镜来观察检验分析金属内部的组织结构是工业生产中的一种重要手段。主要由光学系统、照明系统、机械系统、附件装置(包括摄影或其它如显微硬度等装置)组成。根据金属样品表面上不同组织组成物的光反射特征，用显微镜在可见光范围内对这些组织组成物进行光学研究并定性和定量描述。包括试样的制备、抛光和腐刻等技术移植到钢铁研究，发展了金相技术，后来还拍出一批低放大倍数的和其他组织的金相照片。光学金相显微术日臻完善，并普遍推广使用于金属和合金的微观分析，迄今仍然是金属学领域中的一项基本技术。石棉显微镜是用可见光作为照明源的一种显微镜。它们都包括光学放大、照明和机械三个系统。
如果您想要研究晶体结构，徕卡偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，徕卡正置偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。徕卡正置偏光显微镜采用LED照明，较卤素照明优势更加明显：它比卤素照明消耗的能源少，而且无需更换，不会导致机器停机LED使用寿命长达25,000小时LED为样品提供均匀照明，色温恒定，为您提供真实的样品形貌LED可快速调整光强，让您的工作顺畅无阻LED无需日光滤镜，因为它已经提供了4500K恒定光温LED产生的热量少，因此无需冷却风扇LED可帮助您营造安静无干扰的工作环境，因为没有冷却风扇在周围产生噪音.个是意大利科学家伽利略。他通过显微镜观察到一种昆虫后，.次对它的复眼进行了描述。
LFM是检测表面不同组成变化的SFM技术。它可以识别聚合混合物、复合物和其他混合物的不同组分间转变，鉴别表面有机或其他污染物以及研究表面修饰层和其他表面层覆盖程度。它在半导体、高聚物沉积膜、数据贮存器以及对表面污染、化学组成的应用观察研究是非常重要的。LFM之所以能对材料表面的不同组分进行区分和确定，是因为表面性质不同的材料或组分在LFM图像中会给出不同的反差。例如，对碳氢羧酸和部分氟代羧酸的混合LB膜体系，LFM能够有效区分开C-H和C-F相。这些相分离膜上，H-C相、F-C相及硅基底间的相对摩擦性能比是1：4：10。说明碳氢羧酸可以有效提供低摩擦性，而部分氟代羧酸则是很好的抗阻剂。不仅如此，LFM也已经成为研究纳米尺度摩擦学-润滑剂和光滑表面摩擦及研磨性质的重要工具。为研究原子尺度上的摩擦机理，Mate等和Ruan、Bhan对新鲜解离的石墨（HOPG）进行了表征。HOPG原子尺度摩擦力显示出高定向裂解处与对应形貌图像具有相同周期性（图），然而摩擦和形貌图像中的峰值位置彼此之间发生了相对移动（图）。利用原子间势能的傅里叶公式对摩擦力针尖和石墨表面原子间平衡力的计算结果表明，垂直和横向方向的原子间力比较大值并不在同一位置。(2) 附有相位环(环形缝板)的聚光镜，相位差聚光镜。 (3) 单色滤光镜-(绿)。宜昌偏光显微镜
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清洁度检测仪是利用表面张力及液滴平衡原理测量材料表面的清洁度。当一滴液体靠近固体表面时，表面张力将使液体形成一束曲线（切线）与该表面相切，曲线越剧烈，表面越脏。徕卡清洁度检测仪通过测量切线的角度计算表面张力，进而得出材料表面清洁度。LeicaM80实现零件清洗与颗粒污染物过滤回收同步进行，可及时将零件表面的颗粒污染物收集到滤膜表面，清洗零件结束后即可得到滤膜样本，减少颗粒污染物在清洗剂中滞留时间。LeicaM80清洁度检测仪适合检测粒径25微米以上的颗粒，是汽车零部件客户一个比较经济型的选择方案。该仪器支持标准、ISO16232,VDA19,ISO4406,ISO4407,NAS1638等，同时支持自定义标准。可以辨别金属非金属，纤维，自动计算统计所设区间内的颗粒数量。系统构成：1.技术参数：1)平行光路,以人为本,避免V型光路造成的职业眼病。2)变倍比8：1；主机放大倍数；3)LED照明系统；多种附件满足各种需求；4)自动、手动操作；人体工程学设计；5)超大工作距离。6)LeicaCleanlinessExpert全自动颗粒分析软件；7)外设(计算机)；2、高精度扫描型电动载物台：1)有效行程：XY行75*50mm；2)重复精度<1μm；3)精度±3μm。宜昌偏光显微镜
