显微镜基本参数
  • 产地
  • 德国
  • 品牌
  • 徕卡
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
显微镜企业商机

徕卡显微镜是一款由德国光学品牌徕卡推出的高性能显微镜系统,是目前技术先进的显微镜系统之一。该系统采用了先进的光电子技术和图像处理技术,可为用户提供高分辨率、清晰度高的显微镜图像。徕卡显微镜组成主要包括显微镜本体、电子摄像头、计算机、图像处理软件等。显微镜本体是由高质量的光学材料制成,经过精密加工和组装,可以提供高水平的成像效果。电子摄像头作为显微镜系统重要组成部分,主要负责将显微镜得到的图像传输到计算机上,通过图像处理软件实现成像调整和数据分析。茂鑫提供品质徕卡显微镜,为客户提供便捷的采购服务。黄山显微镜报价

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它们各成像在分划板的a和a′点。在目镜中观察到的即为具有与被测表面一样的齿状亮带,通过目镜的分划板与测微器测出a点至a′点之间的距离n,被测表面的微观平面度h即为h=(1)式中:v—物镜放大倍数。四、9j光切法显微镜的结构仪器的结构如图示2(a)、图2(b)所示。基座(1)上装有立柱(2),显微镜的主体通过横臂(5)和立柱联结,转动手轮(3)将横臂(5)沿立柱(2)上下移动,进行显微镜粗调焦,而后用旋手(6)将横臂紧固在立柱上。显微镜的光学系统压缩在一个封闭的壳体(18)内,在壳上装有可替换的物镜组(13)(它们插在滑板上用手柄(12)借弹簧力固紧),测微目镜(11)、照明灯(7)及摄像装置的插座(10)等。微调手轮(4)用于显微镜的精细调焦。仪器的数码相机适配镜(9)装在插座(10)处(使用时需将防尘盖拿去),可与测微目镜(11)并用。摄像时,装上数码相机适配镜(9)及数码相机(8),此时将手轮(21)转向摄像部位即可进行摄像(数码相机和适配镜选购)。在仪器的坐标工作台(16)上,利用手轮(15)可对工件进行坐标测量与调整,松开旋手(14)并可作360°转动;对平面形工件,可直接放在工作台上进行测量;对圆柱形工件。北京显微镜信息(3) 单色滤光镜系用中心波长546nm(毫微米)的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。

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徕卡显微镜性能特点:1、结构简单,使用可靠:通过白光(4500K)LED照明和徕卡高质量光学设备更佳匹配。2、大功率LED照明:适用于明场、暗场、微分干涉和偏光的多功能光源。3、光学部件:具有鲜明对比度和锐化的图像与高分辨率视场和优化图像视场结合。4、使用可靠:彩色编码光圈辅助装置(CCDA)、内置对焦止动装置、内置式斜照明装置确保使用方便、可靠。5、配置灵活:不但使用功能适用所有样本,也使得购置更节省。6、简化文件记录过程:摄像头与软件结合,实现数据快速准确地分析、归档。徕卡显微镜发展:1.光学系统的升级:随着光学技术的不断发展,镜头、倒影镜等光学部件得到不断升级,使得成像效果更加清晰、细节更加丰富。

微悬臂被压电驱动器激发到共振振荡。振荡振幅用来作为反馈信号去测量样品的形貌变化。在相位成像中,微悬臂振荡的相角和微悬臂压电驱动器信号,同时被EEM(extenderelectronicsmodule)记录,它们之间的差值用来测量表面性质的不同(如图)。可同时观察轻敲模式形貌图像和相位图像,并且分辨率与轻敲模式原子力显微镜(AFM)的相当。相位图也能用来作为实时反差增强技术,可以更清晰观察表面完好结构并不受高度起伏的影响。大量结果表明,相位成像同摩擦力显微镜(LFM)相似,都对相对较强的表面摩擦和粘附性质变化很灵敏。目前,虽然还没有明确的相位反差与材料单一性质间的联系,但是实例证明,相位成像在较宽应用范围内可给出很有价值的信息。例如,利用力调制和相位技术成像LB膜等柔软样品,可以揭示出针尖和样品间的弹性相互作用。另外,相位成像技术弥补了力调制和LFM方法中有可能引起样品损伤和产生较低分辨率的不足,经常可提供更.辨率的图像细节,提供其他SFM技术揭示不了的信息。相位成像技术在复合材料表征、表面摩擦和粘附性检测以及表面污染过程观察等广泛应用表明,相位成像将对在纳米尺度上研究材料性质起到重要作用。反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,、正交偏光观察,锥光观察。

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▽超细颗粒制备方法示意图来源:公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源:公开资料5图像类别(1)明暗场衬度图像明场成像(Brightfieldimage):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像(Darkfieldimage):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书](2).辨TEM(HRTEM)图像HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息);结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书](3)电子衍射图像l选区衍射(Selectedareadiffraction,SAD):微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射(Convergentbeamelectrondiffraction,CBED):纳米级微小区域结构特征。l微束衍射(Microbeamelectrondiffraction,MED):纳米级微小区域结构特征。徕卡显微镜,徕卡偏光显微镜,徕卡3D显微镜就找茂鑫。泰州体视显微镜

暗视野显微镜 暗视野显微镜由于不将透明光射入直接观察系统,无物体时,视野暗黑。黄山显微镜报价

茂鑫实业(上海)有限公司作为一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司,茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术,以满足客户的需求。1.斥力模式原子力显微镜(AFM)微悬臂是原子力显微镜(AFM)关键组成部分之一,通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像,探针尖连续(接触模式)或间断(轻敲模式)与样品接触,并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时,它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动,就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜(AFM)设计可以有所不同,扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描,也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜(AFM)压电扫描器通常能在(x,y,z)三个方向上移动,由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同,扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm~125μm之间变化,垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜(AFM)微悬臂。黄山显微镜报价

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