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信号完整性测试基本参数
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3、信号完整性的设计方法(步骤)掌握信号完整性问题的相关知识;系统设计阶段采用规避信号完整性风险的设计方案,搭建稳健的系统框架;对目标电路板上的信号进行分类,识别潜在的SI风险,确定SI设计的总体原则;在原理图阶段,按照一定的方法对部分问题提前进行SI设计;PCB布线阶段使用仿真工具量化信号的各项性能指标,制定详细SI设计规则;PCB布线结束后使用仿真工具验证信号电源等网络的各项性能指标,并适当修改。

4、设计难点信号质量的各项特征:幅度、噪声、边沿、延时等。SI设计的任务就是识别影响这些特征的因素。难点1:影响信号质量的因素非常多,这些因素有时相互依赖、相互影响、交叉在一起,抑制了某一因素可能会导致其他方面因素的恶化,所有需要对各因素反复权衡,做出系统化的综合考虑;难点2:有些影响信号传输的因素是可控的,而有些是不可控的。 测试信号完整性测试问题有哪些?山东信号完整性测试检查

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克服信号完整性问题随着数据传输速度的提高,信号完整性对于通道设备和互连产品越来越重要。为了确保您的设备具有出色的信号完整性,首先您要确定好希望获得的仿真结果,然后再将其与实际测量结果进行比较。接下来,结合信号分析技术(例如在示波器上显示的眼图)和仿真软件,即可找到导致信号衰减的根本原因。下一步就是确定合适的解决方案,使用软件和硬件来建立可靠的信号完整性工作流程。必须使用高质量的矢量网络分析仪(VNA),设置校准参考面以执行S参数测量,设置去嵌入参考面以正确移除夹具。测量结果将会包括准确的S参数和可靠的DUT特性。尽早解决信号完整性问题,您就可以优化电路设计,保证优异的设备性能和出色的价格优势。校准信号完整性测试规格尺寸克劳德高速数字信号测试实验室信号完整性的测试方法、系统、装置及设备与流程;

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一般讨论的信号完整性基本上以研究数字电路为基础,研究数字电路的模拟特性。主要包含两个方面:信号的幅度(电压)和信号时序。

与信号完整性噪声问题有关的四类噪声源:1、单一网络的信号质量2、多网络间的串扰3、电源与地分配中的轨道塌陷4、来自整个系统的电磁干扰和辐射

当电路中信号能以要求的时序、持续时间和电压幅度到达接收芯片管脚时,该电路就有很好的信号完整性。当信号不能正常响应或者信号质量不能使系统长期稳定工作时,就出现了信号完整性问题。信号完整性主要表现在延迟、反射、串扰、时序、振荡等几个方面。一般认为,当系统工作在50MHz时,就会产生信号完整性问题,而随着系统和器件频率的不断攀升,信号完整性的问题也就愈发突出。元器件和PCB板的参数、元器件在PCB板上的布局、高速信号的布线等这些问题都会引起信号完整性问题,导致系统工作不稳定,甚至完全不能正常工作。

信号校准服务默认情况下,当矢量网络分析仪(VNA)开启时,其参考平面位于前面板。将电缆连接到被测设备时,校准参考必须使用短路-开路-负载-直通法(SOLT)、直通反射线或直通反射匹配参考结构。SOLT是常见的方法。电缆可以直接连接到DUT或夹具。夹具安装在电缆和DUT之间,有助于兼容不同类型的连接器,例如HDMI、显示端口、串行ATA和PCIExpress。在本示例中,校准参考面包括电缆,而去嵌入参考面包括夹具。将校准误差校正和去嵌入相结合时,必须包括通道中与DUT的所有互连。连接DUT后,您就可以进行测量,并执行测量后(去嵌入)误差校正。信号完整性测试分类时域测试频域测试;

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4.系统模型及分类a.连续时间系统与离散时间系统:若系统的输入和输出都是连续时间信号,且其内部也未转化为离散时间信号,则称此系统为连续时间系统。若系统的输入和输出都是离散时间信号,则此系统为零散时间系统。混合系统:离散时间系统和连续时间系统的组和。b.即时系统与动态系统:如果系统的输出信号只决定于同时刻的激励信号与他过去的工作状态无关,则此系统为即时系统。如果系统的输出信号不仅取决于同时刻激励信号,而且与他过去的工作状态有关,这种系统称为动态系统。c.集总参数系统与分布参数系统:由集总参数软件组成的系统,是集总参数系统。含有分布参数元件的系统是分布参数系统。其中集总参数系统用常微分方程作为数学模型,分布参数系统用偏微分作为模型d.线性系统与非线性系统:具有叠加性与均匀性的系统称为线性系统。不满足叠加性和均匀性的系统则为非线性系统。e.时变系统与时不变系统:如果系统的参数不随时间而变化,则此系统为时不变系统,如果系统的参量随时间变,则系统为时变系统。f.可逆系统与不可逆系统:由系统在不同的激励信号下产生不同的响应,则系统为可逆系统。否则为不可逆系统。克劳德实验室数字信号完整性测试进行抖动分析结果;校准信号完整性测试故障

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根据经验,如果比特率为BR,信号带宽为BW,那么比较高正弦波频率分量大约为BW=0.5xBR,或BR=2xBW。BW由能通过互连传送的比较高频率信号决定,并且其衰减仍低于SerDes可以补偿的值。使用低端的SerDes时,可接受的插入损耗可能为-10分贝,我们能从图30的屏幕上读取的8英寸长微带线的带宽约为12GHz。这样操作就能在远高于20Gbps的比特率进行。但是,这只能用于8英寸长的宽幅导体。在较长的背板或母板上,有连接器、子卡和过孔,传输特性不会如此清晰。

带两个子卡的母板上24英寸互连的插入损耗和回波损耗。所示为一个典型的母板上24英寸长带状线互连的TDR/TDT响应。此例中,SMA加载将TDR电缆与小卡连接,穿过连接器、过孔场,返回穿过连接器,然后进入TDR的第二通道。绿线是作为S21显示的插入损耗。对于这种互连而言,-10分贝的插入损耗带宽为2.7GHz,比较大传输比特率约为5Gbps,使用低端SerDes驱动器和接收机。 山东信号完整性测试检查

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2.5 识别导致过多损耗的设计特征由于测得的 TDR/TDT 数据能直接从 TDR 仪器快速、轻松地导入建模工具,从而帮助我们找出意外或异常行为的根本原因,因此调试时间有时能从几天缩短到几分钟。图 33 所示为三种结构测得的 TDT 响应。顶端的水平线是从参考直通测得的插入损耗,可以看到当互连基本上为透明时,响应非常平。这种测量直接反映了仪器的能力。 均匀线(被测件1)和作为差分对一部分的均匀线(被测件2)上测得的插入损耗。从上往下的第二条线就是前文中所见的8英寸单端微带线的插入损耗。第三条线是另一条九英寸长均匀微带传输线测得的插入损耗。然而,该传输线的插入损耗上有一个约6GHz的波...

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