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光学非接触应变测量基本参数
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光学非接触应变测量企业商机

采用三维光学测量技术,可以通过全场非接触式测量方式,测试关键部位变形和损伤的起始位置,并实时记录车桥结构表面的全场变形。能直观地看到测量区域内全部的位移应变数据色谱图,获取全场数百万个点的位移应变数据,而不是位移计或者应变片单有的几十个读数。基于车桥制造商客户的需求,三维技术工程师分别采用光学非接触全场应变测量系统、三维摄影测量系统,测试车桥在两端施加载荷的工况过程中,结构表面的位移变化以及部件材料的应变变化。光纤布拉格光栅传感器是光学非接触应变测量的中心,通过测量光纤中的光频移确定应变大小。贵州全场非接触应变系统

贵州全场非接触应变系统,光学非接触应变测量

云纹干涉法:基本原理:通过在物体表面制作云纹图案,利用光的干涉原理记录物体变形过程中云纹图案的变化,通过分析云纹图案的变化来推断物体的应变状态。优点:具有直观、简便的优点,适用于大型结构或复杂形状的物体应变测量。缺点:云纹制作过程可能较为繁琐,且对测量精度有一定影响。数字图像处理法:基本原理:通过拍摄物体表面的图像,利用数字图像处理技术提取图像中的特征信息(如边缘、纹理等),通过比较不同时刻的图像特征变化来推断物体的应变状态。优点:具有灵活性高、适用范围广的优点,可以适用于各种复杂环境和条件下的应变测量。缺点:受图像质量影响较大,如光照条件、相机分辨率等都会影响测量精度。这些光学非接触应变测量技术各有优缺点,在实际应用中需要根据具体的测量需求、实验条件以及物体特性进行选择。同时,随着光学技术和计算机技术的不断发展,这些测量技术也在不断更新和完善,为应变测量领域提供了更多的选择和可能性。西安三维全场数字图像相关技术应变测量光学非接触应变测量通过多点测量实现复杂应变场的测量。

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DIC(DigitalImageCorrelation)数字图像相关技术,是一种通过图像相关点进行对比的算法,通过该方法可计算出物体表面位移及应变分布,(图形中用红色标出)。整个测量过程,只需以一台或两台图像采集器,拍摄变形前后待测物图像,经运算后3D全场应变数据分布即可一目了然。不像应变片需花费大量时间做表面的磨平及黏贴,同时也只能测量到一个点某个方向的应变数据。也不像条纹干涉法对环境要求严格。DIC方法获得的数据为全场范围内的3D数据。用于分析、计算、记录变形数据。采用图形化显示测量结果,便于更好地理解和分析被测材料的性能。

光学应变测量与光学干涉测量是两种常见的光学测量方法,它们在测量原理和应用领域上有着明显的不同。这里将介绍光学应变测量的工作原理,并与光学干涉测量进行比较,以便更好地理解它们之间的区别。光学应变测量是一种通过测量物体表面的应变来获得物体应力状态的方法。它利用光学传感器测量物体表面的形变,从而间接地推断出物体内部的应力分布。光学应变测量的工作原理基于光栅投影和图像处理技术。首先,将光栅投影在物体表面上,光栅的形变将随着物体的应变而发生变化。然后,使用相机或其他光学传感器捕捉光栅的形变图像。较后,通过对图像进行处理和分析,可以得到物体表面的应变分布。与光学应变测量相比,光学干涉测量是一种直接测量物体表面形变的方法。它利用光的干涉现象来测量物体表面的形变。光学非接触应变测量通过模拟仿真实现应力分析。

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光学非接触应变测量的崛起源于对传统测量痛点的攻破。接触式测量中,应变片的粘贴会改变材料表面应力状态,引伸计的夹持力可能导致样品早期损伤,而这些干扰在航空航天钛合金构件、半导体晶圆等精密测试场景中足以造成数据失真。更关键的是,传统方法同时监测数十个测点,对于复合材料裂纹扩展、混凝土结构变形等非均匀变化,根本无法完整还原全场力学响应。光学非接触应变测量技术彻底改变了这一局面,其原理是通过光学系统捕获物体表面的特征信息,利用数字算法实现变形量的计算。光学非接触应变测量利用光的干涉原理,实现了对物体应变的非接触测量。西安三维全场数字图像相关技术应变测量

三维应变测量技术可用于测量飞机、火箭等航空航天器的机翼、机身等关键部件在飞行过程中的应变状态。贵州全场非接触应变系统

针对特殊场景的技术难点,研索仪器推出了一系列专项解决方案。在介观尺度测量领域,µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白,通过将 DIC 技术与光学显微镜相结合,可获取 10μm-10mm 尺度下的局部应变场精细数据,为材料微观力学行为研究提供有力工具。面对极端环境测试需求,MML 极端环境微纳米力学测试系统展现出强大的环境适配能力,能够在真空环境下 - 100℃至 1000℃的宽温度范围内稳定工作,实现纳米级力学性能测试,攻克了高温合金、陶瓷等材料在极端条件下的测量难题。贵州全场非接触应变系统

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