黑体在工业上主要应用于测温领域，常见的产品是黑体炉。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过高稳定度的辐射源（通常为黑体辐射源）和其他配套设备，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果。一切物体只要其温度高于零度（-273℃）都能辐射电磁波。热成像主要采集热红外波段（8μm-14μm）的光，来探测物体发出的热辐射。热成像把热辐射转化为灰度值，通过黑体辐射源标定得到的测温算法模型（温度灰度曲线）建立灰度与温度的准确对应关系，从而来实现测温功能。温度安检门的技术原理是：由于物体的红外辐射特性与它的表面温度有着十分密切的关系，因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度。系统包括：红外热成像图像采集器1套、恒温黑体炉1套、工控服务器主机1套、云计算中心平台1套。靶面式黑体炉BR1450
高温辐射温度计LD系列，是东京精工销售业绩比较好的一款以硅光单元为技术**的高温计以及
黒体炉（东京精工）、样品加热炉（东京精工）、温度控制器以及附属光学系统构成。
黑体炉是标准的辐射源，同时也是系统校准的重要设备，其要求的主要技术指标为：
温度范围：80℃~1000℃；
控温精度：±0.5℃；
开口直径：Φ20mm；
空腔有效发射率：大于0.99；
形状：球形；
电源：AC100V 1KW；
样品加热炉要加热到同样温度时才能进行测量工作，其要求的主要技术指标为：
温度范围：80℃~1000℃； 上海黑体炉人体红外线温***校准**黑体炉。
选用测温仪，要注意辐射路径的吸收。因为可以测的范围很广，所以可以针对不同的吸收情况，选择合适的波长。在高温区，测量金属材料的比较好波长是近红外，可选用0.8～1.0um。其他温区可选用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。
红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.995的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪。
如前文所述，由于我们测量的物体都不是***黑体，不同物体的发射率也不尽相同，这些因素会导致较大的测量误差。因此需要对数据进行处理。具体的处理方法是：一是收集红外传感器对黑体炉标定数据。记录不同温度下目标的灰度I，和实际温度T；二是目标图像灰度值与温度相关关系的数学表达式，即回归方程式。由于灰度和温度具有高度相关性，可以使用一元线性回归分析方法来拟合构回归方程。通过该方程即可根据红外相机拍摄到目标的灰度值计算出目标的实际温度[5]。2018年科技攻关活动中《验证黑体炉有效发射率的研究与应用》被评为计量中心科技成果三等奖。
分析认为，GB/T 30127—2013标准检测用的传感器是全红外波长范围的，且采用的是标准黑体板，其发射率要求*为0.95，所以该测试实际上是样品的全红外波长范围辐射能量积分与发射率偏低的标准黑体板全红外波长范围辐射能量积分的比值。而CAS 115—2005则是通过红外光谱仪测试出100℃时样品的法向发射率曲线，并采用有效发射率大于0.99的黑体炉作为参照，通过比较样品与黑体炉在4μm～16μm内的远红外辐射能量积分作为测试结果，更能表征样品与人体辐射波长相对应的波长范围辐射特性。额温枪成品的品质检测速度受黑体炉和恒温房所限制，还有主控芯片MCU、运算放大器、外壳等物料动态变化。德国原装进口黑体炉BR400
现场检定校准黑体炉、恒温槽等计量器具，开展质检人员业务培训，有效解决企业技术难题。靶面式黑体炉BR1450
一点法的缺点同时也是其优点。由于是*针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。
各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构(有内档片和外档片两种形式)，此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。 靶面式黑体炉BR1450
