晶圆测试有一点基本就是：晶圆测试必须能够辨别芯片的好与坏，并使合格芯片继续进入下面的封装工艺。为了确保芯片功能和成品率的有效测试，封装厂商和设备制造者需要不断探索，进而找到高精度、高效率和低成本的测试方法，并运用新的组装工艺要求对晶圆片进行探测，这些要求将引起设备和工艺过程的重大变化。针座从操作上来区分有：手动，半自动，全自动，从功能上来区分有：温控针座，真空针座（低温针座），RF针座，LCD平板针座，霍尔效应针座，表面电阻率针座。针座两直角边上分别设置立贴和卧贴焊接部，使得立贴和卧贴贴片针座都能公用。韶关2.54mm针座标准尺寸
如何将针座连接至待测点：(1)显微镜小倍数物镜下找到待测点（或附近的位置），使待测点成像清晰。(2)确认定位器XYZ三轴均中间行程位置（即各轴导轨端面螺丝对齐）。Z轴也可略向上错开3mm左右。(3)安装并调节好针座的高度，侧向平视，观察针座与样品台（或样品）间的距离（大概5mm，或略小于5mm）。可通过调节针座臂或针座臂适配器的高度进行粗调定位。(4)移动定位器，将所有针座移动至显微镜光斑下。此时通过目镜观察可看到针座的虚影（针座成像未实体化）。东莞2.0贴片针座工厂针座通过在装置的一侧不断的将半成品夹持在传送装置上的夹持板之间。
通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至针座，然后通过针座至芯片上的焊点，到达被测器件，并后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是接触电阻，它会受针座参数的影响，如针座的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及针座的平整度。此外，针座尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。
双支包装注射针，包括两支注射针，每支注射针包括针座，固定设置在针座上的针管及槽状护帽，针座与护帽可拆卸式连接;还包括用于插入针管内壁的防刺件，防刺件一端为表面设置凹槽的柔性柱，另一端为与针管刃口相适配的被磁化的铁磁性材质端头，端头与针管接触的一面设置防磨层;护帽底壁设置与凹槽适配的弹性凸起;两支注射针通过被磁化的铁磁性材质端头连接在一起用于组合包装。不再使用针管护套，开创新的保护针管的方式，减少塑料护套的使用量，减少白色污染;并且防刺件可以重复利用，不像塑料针管护套。针座防止布面污染，提高了成本率。
针座常见故障分析及维护方法：芯片测试是IC制造业里不可缺少的一个重要环节。芯片测试是为了检验规格的一致性而在硅片集成电路上进行的电学参数测量。硅片测试的目的是检验可接受的电学性能。测试过程中使用的电学规格随测试的目的而有所不同。如果发现缺陷，产品小组将用测试数据来确保有缺陷的芯片不会被送到客户手里，并通过测试数据反馈，让设计芯片的工程师能及时发现并纠正制作过程中的问题。通常用户得到电路，直接安装在印刷电路板(PCB)上，PCB生产完毕后，直接对PCB进行测试。这时如果发现问题，就需要复杂的诊断过程和人工分析，才能找到问题的原因。针座通道相互配合来对液体进行密封，紧密可靠，具有良好的防回血功能。韶关2.54mm针座标准尺寸
针座利用真空吸嘴自动化装配的效果，节约了人工保证了产品品质。韶关2.54mm针座标准尺寸
针座主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。针座从操作上来区分有：手动，半自动，全自动。从功能上来区分有：温控针座，真空针座（很低温针座），RF针座，LCD平板针座，霍尔效应针座，表面电阻率针座。经济手动型根据客户需求定制：chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选）；移动行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选）；chuckZ轴方向升降10mm（选项）方便针座与样品快速分离；显微镜：金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜（可选）；显微镜移动方式：立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型（可选）；针座座：有0.7um、2um、10um精度可选，磁性吸附带磁力开关；可搭配Probecard测试；适用领域：晶圆厂、研究所、高校等。韶关2.54mm针座标准尺寸
