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极大规模集成电路（ULSI英文全名为Ultra Large Scale Integration）逻辑门10,001~1M个或 晶体管100,001~10M个。GLSI（英文全名为Giga Scale Integration）逻辑门1,000,001个以上或晶体管10,000,001个以上。二、按功能结构分类：集成电路按其功能、结构的不同，可以分为模拟集成电路和数字集成电路两大类。三、按制作工艺分类：集成电路按制作工艺可分为单片集成电路和混合集成电路，混合集成电路有分为厚膜集成电路和薄膜集成电路。四、按导电类型不同分类：集成电路按导电类型可分为双极型集成电路和单极型集成电路。双极型集成电路的制作工艺复杂，功耗较大，**集成电路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等类型。单极型集成电路的制作工艺简单，功耗也较低，易于制成大规模集成电路，**集成电路有CMOS、NMOS、PMOS等类型。性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近。杨浦区优势电阻芯片量大从优

74系列是标准的TTL逻辑器件的通用名称，例如74LS00、74LS02等等，单从74来看看不出是什么公司的产品。不同公司会在74前面加前缀，例如SN74LS00等。相关拓展一个完整的IC型号一般都至少必须包含以下四个部分:前缀（首标）-----很多可以推测是哪家公司产品。器件名称----一般可以推断产品的功能（memory可以得知其容量）。温度等级-----区分商业级，工业级，军级等。一般情况下，C表示民用级，Ⅰ表示工业级，E表示扩展工业级，A表示航空级，M表示**级。杨浦区优势电阻芯片量大从优前面的字母是芯片厂商或是某个芯片系列的缩写。像MC开始的多半是摩托罗拉的，MAX开始的多半是美信的。

这种方法容易实施但无法检测出非功能性影响的故障。结构测试是对内建测试的改进，它结合了扫描技术，多用于对生产出来的芯片进行故障检验。缺陷故障测试基于实际生产完成的芯片，通过检验芯片的生产工艺质量来发现是否包含故障。缺陷故障测试对专业技术人员的知识和经验都要求很高。芯片厂商通常会将这四种测试技术相结合，以保障集成电路芯片从设计到生产再到应用整个流程的可靠性和安全性。压诊断出现较早且运用较广。电压测试的观测信息是被测电路的逻辑输出值。

制造过程芯片制作完整过程包括芯片设计、晶片制作、封装制作、测试等几个环节，其中晶片制作过程尤为的复杂。首先是芯片设计，根据设计的需求，生成的“图样”芯片的原料晶圆晶圆的成分是硅，硅是由石英沙所精练出来的，晶圆便是硅元素加以纯化（99.999%），接着是将这些纯硅制成硅晶棒，成为制造集成电路的石英半导体的材料，将其切片就是芯片制作具体所需要的晶圆。晶圆越薄，生产的成本越低，但对工艺就要求的越高。晶圆涂膜晶圆涂膜能抵抗氧化以及耐温能力，其材料为光阻的一种。集成电路雏形是由杰克·基尔比于1958年完成的，其中包括一个双极性晶体管，三个电阻和一个电容器。

2006年，设立“国家重大科技专项”；无锡海力士意法半导体正式投产。2008年，中星微电子手机多媒体芯片全球销量突破1亿枚。2009年，国家“核高基”重大专项进入申报与实施阶段。2011年，《关于印发进一步鼓励软件产业和继承电路产业发展若干政策的通知》。 [5]2012年-2019年高质量发展期2012年，《集成电路产业“十二五”发展规划》发布；韩国三星70亿美元一期投资闪存芯片项目落户西安。2013年，紫光收购展讯通信、锐迪科；大陆IC设计公司进入10亿美元俱乐部。2006年，芯片面积从几平方毫米到350 mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管。杨浦区个性化电阻芯片工厂直销

这些年来，集成电路持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路。杨浦区优势电阻芯片量大从优

通常集成电路芯片故障检测必需的模块有三个：源激励模块，观测信息采集模块和检测模块。源激励模块用于将测试向量输送给集成电路芯片，以驱使芯片进入各种工作模式。通常要求测试向量集能尽量多的包含所有可能的输入向量。观测信息采集模块负责对之后用于分析和处理的信息进行采集。观测信息的选取对于故障检测至关重要，它应当尽量多的包含故障特征信息且容易采集。检测模块负责分析处理采集到的观测信息，将隐藏在观测信息中的故障特征识别出来，以诊断出电路故障的模式。杨浦区优势电阻芯片量大从优

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