Mapping Over Ink是一套在晶圆测试（CP）后，对电性测试图谱进行智能分析、处理，并直接驱动探针台对特定芯片进行喷墨打点的自动化系统。它将各种分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“...

在车规级等高可靠性芯片领域，每一个测试数据点都可能成为质量追溯与合规审计的关键证据。测试管理系统通过毫秒级的数据采集与不可篡改的存储机制，确保从测试源头开始的每一个数据都具备完整的时间戳、设备信息、测...

半导体行业的多样性决定了并非所有企业都能适用同一套管理模板。当标准系统无法完全匹配特定的业务流程或质量管控要求时，定制化服务便成为实现管理升级的必经之路。基于对客户现有工作流的深入分析，将自动数据采集...

设计公司与封测厂（OSAT）之间的信息延迟往往是产品上市周期被拉长的关键瓶颈。一个高效的测试管理系统能够打破这种地理和组织的隔阂，建立实时、精确的数据桥梁。系统自动从封测厂的测试机台采集良率报告、关键...