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USB测试基本参数
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USB测试企业商机

USB测试

这个测试对于激励源即误码仪的码型发生部分的要求很高。首先,其要能产生高质量 的高速数据流,码型发生器固有抖动要非常小才不会影响正常的抖动容限测试;其次,要能 在数据流调制上幅度、频率精确可控的抖动分量。抖动分量中除了要有随机抖动外,还要有 不同频率和幅度的周期抖动,图3.22是对接收容限测试中需要添加的各种抖动分量以及信 号幅度、预加重的要求。测试要在多种频率的周期抖动条件下进行并保证在所有情况下误 码率都小于1.0×10- 12

克劳德高速数字信号测试实验室

地址:深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区 USB3.0一致性测试环境;示波器、测试软件、夹具;PCI-E测试USB测试商家

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USB4.0 的 规范 是 2021 年 5 月份发 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”;测 试 规 范 是 2021 年 7 月 份 发 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因为 USB4.0 需要支持有源电缆和无源电缆两种应用场景,  针对 的测试点分别是 TP2 和TP3,  即通俗讲的近端测试和远端测试。 在进行远端测试时,需要考虑无源电缆的影响。因为一根实体的 无源电缆很难完整的表征所有恶劣的场景,  包括插入损耗、回 波损耗、串扰等,为了保证测试的一致性和可重复性,发动端测 试都是用软件的算法,  利用示波器嵌入 S 参数 / 传递函数的方式, 实现参考链路的模拟。同时,  为了保证测试精度,  USB4.0 要求示 波器在进行信号捕获前,需要通过去嵌 (De-embedded) 的方式去除 测试电缆的影响。 PCI-E测试USB测试商家USB3.0信号质量测试中的测试码型和LFPS信号?

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   克劳德高速数字信号测试实验室致敬信息论创始人克劳德·艾尔伍德·香农,以成为高数信号传输测试界的带头者为奋斗目标。

   克劳德高速数字信号测试实验室重心团队成员从业测试领域10年以上。实验室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、误码仪、协议分析仪、矢量网络分析仪及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行业指定品牌夹具。坚持以专业的技术人员,严格按照行业测试规范,配备高性能的权能测试设备,提供给客户更精细更权能的全方面的专业服务。

   克劳德高速数字信号测试实验室提供具深度的专业知识及一系列认证测试、预认证测试及错误排除信号完整性测试、多端口矩阵测试、HDMI测试、USB测试等方面测试服务。

根据应用场景的不同,这个“Long Channel”的定义也不同。比如对于 A型接口5Gbps速率的主机的测试,它模拟的是3m长电缆+5英寸PCB走线的影响;对 于B型接口外设的测试,它模拟的是3m长电缆+11英寸PCB走线的影响。因此,USB3.x 的信号质量测试中,5Gbps速率下不同设备类型或者接口类型下嵌入的参考通道模型可能 不一样,测试结果也就可能不一样。但对于10Gbps信号来说,由于USB协会定义的主机 和外设端允许的通道损耗是对称的(都是8.5dB),所以对于主机和外设的测试来说,其嵌入 的通道模型就是一样的。USB3.0测试信号的波形;

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我们日常生活中常用的USB。其中USB2.0应用较为,U盘硬盘数据线,相机扫描仪存储器等。这些都与我们的生活息息相关,为保证其质量与可靠性,在大规模生产前都需进行功能及安全测试。其中难免出现连接兼容性、传输中断、文件传输错误等问题,这些看似很小的问题也许会造成客户对厂商的信任急剧降低,这样就得不偿失了。其实这些都能在研发过程中可以避免,也就是通过信号完整性测试去检验它,下面我们简单的了解一下它。USB2.0是一种串行总线,使用四条线-VBUS、D-、D+和接地。D-和D+传送资料。VBus为来自主机(Host)或集线器(hub)的电源。USB3.0一致性测试环境;PCI-E测试USB测试商家

usb2.0协议层调试方法?PCI-E测试USB测试商家

Type - C的接口是双面的,也就是同 一 时刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引脚上会有USB3 . 1信号输出,至于哪 一面有信号输出,取决于插入的方向。如图3 . 18所 示,默认情况下DFP设备在CC引脚上有上拉电阻Rp,UFP设备在CC引脚上有下拉电阻 Ra,根据插入的电缆方向不同,只有CCl或者CC2会有连接,通过检测CCl或者CC2上的 电压变化,DFP和UFP设备就能感知到对端的插入从而启动协商过程。

信号质量的测试过程中,由于被测件连接的是测试夹具,并没有真实地对端设备插入,这就需要人为在测试夹具上模拟电阻的上下拉来欺骗被测件输出信号 PCI-E测试USB测试商家

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