黑龙江可视化GDBC服务商

晶圆边缘区域良率持续偏低却难以定位原因，是工艺工程师常见的痛点。YMS系统在完成stdf、log等原始数据清洗后，依据晶圆空间坐标对缺陷进行分类，生成色彩渐变的热力图，直观呈现中心、过渡区与边缘的缺陷密度差异。用户可对比不同批次在同一区域的表现，识别是否为光刻对焦偏差或刻蚀均匀性问题所致。叠加时间维度后，还能判断该现象是偶发异常还是系统性漂移。这种空间+时间的双维分析，使优化措施从“整体调整”转向“精确干预”，明显提升工艺调试效率。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际需求，将YMS打造为缺陷定位的可视化利器。Mapping Over Ink处理算法组合可根据产品类型灵活配置，适配消费级至前沿芯片需求。黑龙江可视化GDBC服务商

当多台测试设备同时产出异构数据时，传统人工整合方式不仅耗时，还易引入误差。YMS系统通过自动化流程，将来自ETS364、STS8200、TR6850等设备的spd、jdf、zip等格式数据统一解析、清洗并结构化存储，构建一致的数据底座。在此基础上，结合WAT、CP、FT等关键测试阶段的参数变化，系统能够揭示影响良率的深层关联，辅助工程师精确调整工艺窗口。多维度可视化图表让晶圆级缺陷热力图、批次良率走势一目了然，明显缩短问题响应周期。报表功能支持按需定制并导出多种办公格式，提升跨部门协同效率。SYL/SBL的实时卡控能力，则有效预防批量性质量风险。上海伟诺信息科技有限公司秉持“以信为本，以质取胜”的宗旨，致力于打造适配国产半导体生态的智能良率管理工具。河北半导体Mapping InklessMapping Over Ink处理系统输出结构化日志，完整记录处理过程满足质量追溯需求。

在封测工厂的日常运营中，良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台，高效采集stdf、csv、log、txt等多种格式的原始测试数据，并完成重复性检测、缺失值识别与异常数据过滤，确保后续分析基于准确、完整的数据基础。通过标准化数据库对数据统一分类，系统支持从时间序列追踪良率趋势，或从晶圆区域对比缺陷分布，快速定位工艺偏差。SYL与SBL参数的自动计算与卡控机制，进一步强化了质量防线。灵活的报表工具可按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF，满足从产线到管理层的信息需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续深耕半导体软件领域，其YMS系统已成为封测企业实现质量闭环管理的重要支撑。

当封测厂每日面对来自数十台测试机台的海量异构数据时，传统手工汇总方式已难以满足实时质量管控需求。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等设备输出的原始测试数据，剔除重复、缺失与异常记录，构建高可信度的数据底座。标准化数据库支持从时间轴追踪良率波动，或聚焦晶圆特定区域识别系统性缺陷，结合WAT、CP、FT参数变化，快速定位工艺偏差根源。例如，当某批次FT良率骤降时，系统可联动CP数据判断是否为封装环节引入问题，缩短排查周期达数小时。图表化界面与日报、周报、月报自动生成机制，使管理层能基于一致数据源高效决策。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的深入理解，将YMS打造为数据驱动质量改进的关键工具。Mapping数据经解析后与Bin信息精确对齐，确保测试结果可追溯。

良率波动若不能及时干预，可能造成数百万级的产能损失。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗来自多种测试平台的异构数据，构建高可信度分析基础。系统支持从宏观趋势到微观缺陷的穿透式分析，例如将某产品月度良率下降与特定封装线关联，并结合FT参数验证是否为打线偏移导致。SYL/SBL卡控机制设置动态阈值，在指标异常时自动预警，实现前置质量管控。多周期报表自动生成并支持多格式导出，使管理层能基于一致数据源快速决策。这种“实时感知—智能归因—主动干预”的能力，将良率管理从经验驱动升级为数据驱动。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，持续打磨YMS的可靠性与实用性。Mapping Over Ink处理后的数据完整支持回溯为原始Probe格式，满足客户审计需求。天津晶圆Mapping Inkless工具

Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。黑龙江可视化GDBC服务商

ZPAT 是一种基于统计学的芯片筛选技术，通过在晶圆测试阶段识别并剔除具有潜在缺陷的芯片，从而提升产品的可靠性。在实际的应用过程中需要通过叠加多片Wafer找出在同一坐标下失效的Die的比例，通过特定的算法从而评估其他未失效的Die存在的潜在失效的概率。也是提升芯片质量零缺陷的一种手段。

为助力客户应对日益严苛的“零缺陷”质量挑战，上海伟诺信息科技有限公司将其先进的ZPAT技术深度整合于Mapping Over Ink 解决方案中。这一创新集成赋予用户高度的灵活性与强大的分析能力，使其能够通过一套高度可配置的流程，精确、高效地剔除晶圆上那些性能参数超出统计控制界限的异常芯片，从而构筑起一道基于动态统计过程控制的智能质量防线。 黑龙江可视化GDBC服务商

上海伟诺信息科技有限公司在同行业领域中，一直处在一个不断锐意进取，不断制造创新的市场高度，多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的商业口碑，成绩让我们喜悦，但不会让我们止步，残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志，和谐温馨的工作环境，富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新，勇于进取的无限潜力，携手大家一起走向共同辉煌的未来，回首过去，我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜，相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围，我们更要明确自己的不足，做好迎接新挑战的准备，要不畏困难，激流勇进，以一个更崭新的精神面貌迎接大家，共同走向辉煌回来！