随着科技的不断进步,光学非接触应变测量技术正朝着更高精度、更复杂环境适应、更智能分析的方向演进。研索仪器将持续依托全球前沿的产品资源与本土化服务优势,在技术创新与行业应用两个维度不断突破,为中国科研创新与产业升级注入更强动力。在技术创新层面,研索仪器将重点布局三大方向:一是更高精度的测量技术研发,通过优化光学系统设计与算法改进,进一步提升测量精度至纳米级,满足微纳电子、生物医学等领域的精密测量需求;二是极端环境测量能力的强化,开发适应更深低温、更高温度、更强辐射等极端条件的测量系统,服务于航空航天、核能等装备研发;三是智能分析技术的融合应用,结合深度学习等先进算法,实现裂尖定位、缺陷识别等任务的自动化与智能化,提升数据分析效率与精度。同时,公司将持续深化与达索系统等国际前沿企业的合作,推动测量技术与仿真平台的深度融合,构建更完善的 "实验 - 仿真" 闭环体系。振弦式应变测量传感器具有较强的抗干扰能力的优点。上海哪里有卖VIC-3D非接触测量系统

近年来,DIC技术向三维化与微型化演进。三维DIC通过双目视觉或多相机系统重建表面三维形貌,消除平面DIC因出平面位移导致的测量误差,在复合材料层间剪切测试中展现出独特优势。微型DIC则结合显微成像技术,实现微米级分辨率的应变测量,为MEMS器件、生物细胞力学研究提供利器。干涉测量以光波波长为基准,通过检测干涉条纹变化实现纳米级位移测量。根据干涉光路设计,可分为电子散斑干涉术(ESPI)、云纹干涉术与光纤干涉术等分支。浙江VIC-3D非接触测量装置三维应变测量技术采用可移动式非接触测量头,可方便地整合应用到静态、动态、高速和高温等测量环境中。

研索仪器基于 DIC 技术构建的产品矩阵,展现了光学非接触测量的全场景适配能力。作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器引入的 VIC 系列产品涵盖从平面到立体、从静态到动态的全维度测量需求。VIC-2D 平面应变场测量系统以超过 1,000,000 数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,成为材料平面力学测试的高效工具;VIC-3D 表面应变场测量系统则实现了多尺度、多物理场的综合测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从微观材料到大型结构的复杂测试需求。
研索仪器与达索系统的深度合作,进一步强化了 "仿真 - 实验" 的协同能力。作为达索系统在教育科研领域的重要生态伙伴,研索仪器将 DIC 测量技术与达索系统的仿真平台相结合,打造了 "仿真计算 + 实验验证" 融合的多尺度科研平台。在北京大学材料科学与工程学院的智能实验室建设项目中,研索仪器通过 BIOVIA ONE Lab 平台实现了高通量实验任务管理与跨学科数据的高效流转,DIC 测量数据可直接导入仿真系统进行模型校准;在中南大学的材料力学研究中,通过 Materials Studio 与 ABAQUS 协同建模,实现了从微观仿真到宏观测试数据的闭环对比,大幅加速了科研进展。这种 "测量数据驱动仿真优化" 的模式,已成为制造领域研发创新的重要范式。研索仪器光学非接触应变测量,捕捉材料细微形变动态。

完善的服务体系是研索仪器技术落地的重要支撑。公司在华东、中南、华南等地设有办事处,并在长沙建立产品展示与技术服务中心,形成覆盖全国的服务网络。针对不同行业需求,研索仪器提供从方案设计、设备安装到操作培训的全流程服务,配备专业技术团队提供实时技术支持。此外,公司还提供 VIC-Speckle 散斑制备工具、标定硬件等配套产品,帮助用户提升测量精度与效率,真正实现 "过程标准化、数据精确可评估" 的服务目标。随着科技进步,光学非接触应变测量技术正朝着更高精度、更复杂环境适应的方向发展。研索仪器将持续深耕 DIC 技术应用,依托全球前沿的产品资源与本土化服务优势,不断拓展测量技术的应用场景。从微观材料研究到大型结构检测,从常规环境到极端条件,研索仪器正以精确的数据力量,助力中国科研突破与产业升级。研索仪器科技光学非接触应变测量,高分辨率成像,应变细节清晰呈现。山东三维全场非接触应变系统
研索仪器光学非接触应变测量系统无需贴片或预加工,避免接触式传感器对试样的干扰,适用于各种恶劣环境。上海哪里有卖VIC-3D非接触测量系统
光学非接触应变测量:技术原理、应用场景与江浙沪供应商推荐光学非接触应变测量技术是通过光学成像、激光干涉、数字图像相关(DIC)等原理,在不接触被测物体的前提下,测量材料或结构在受力、温度变化、振动等工况下的形变、应变及位移数据的无损检测技术。其优势在于无接触干扰、高精度、大范围测量、适用于复杂工况,应用于航空航天、汽车制造、土木工程、材料研发、电子电器等领域。数字图像相关法(DIC)通过拍摄物体表面散斑图像,对比变形前后的像素位移,计算应变 / 位移。上海哪里有卖VIC-3D非接触测量系统