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光学非接触应变测量基本参数
  • 品牌
  • Correlated Solutions
  • 型号
  • VIC-2D, VIC-3D, VIC-Volume
光学非接触应变测量企业商机

在动态与瞬态测量领域,研索仪器的技术优势更为突出。其 VIC-3D 疲劳场与振动测量系统可搭配帧率高达 20 万 fps 的高速摄像机,轻松捕捉瞬态冲击、周期性振动等动态过程中的变形信息,无需复杂布线即可实现动态变形的全场可视化。在汽车碰撞测试中,该系统能记录车身关键部位的应变峰值与变形轨迹;在航空航天领域,可用于机翼动态变形、旋翼高速旋转轨迹的测量分析,为结构可靠性设计提供关键数据。此外,红外 3D 温度场耦合 DIC 系统实现了温度场与应变场的同步测量,3D Micro-DIC 显微测量系统将精度提升至微米级,进一步拓展了测量技术的应用边界。光学非接触应变测量认准研索仪器科技(上海)有限公司!云南VIC-3D数字图像相关技术总代理

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技术特点非接触性:避免接触式测量(如应变片)对被测物体的力学干扰,尤其适用于柔软材料、高温 / 低温环境、高速运动物体;高精度:应变测量精度可达 10⁻⁶~10⁻⁹量级,位移精度可达纳米级(激光干涉法)或微米级(DIC);全场测量:可同时获取被测物体表面任意点的应变 / 位移数据,而非单点测量,便于分析整体变形规律;适应性强:可用于高温、低温、高压、强腐蚀、高速运动等恶劣工况,兼容金属、复合材料、塑料、橡胶等多种材料。山东哪里有卖三维全场非接触应变测量研索仪器光学非接触应变测量系统可结合DIC或干涉技术,实现三维应变场可视化。

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作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器构建了覆盖 "基础测试 - 特殊场景 - 行业定制" 的全维度产品体系,将国际技术与本土需求深度融合。其产品布局呈现出鲜明的多尺度、全工况适配特征,从微观材料分析到大型结构检测均能提供解决方案。在基础测量领域,VIC 系列产品构成了技术基石。VIC-2D 平面应变测量系统以超过 100 万数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,可在拉伸、压缩、弯曲等常规工况下快速输出平面应变云图,成为高校材料力学实验室的标准配置。VIC-3D 三维表面应变测量系统则通过双目立体视觉原理,实现了三维位移与应变场的同步测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从金属材料到高分子复合材料的多样化测试需求。该系统搭载的先进算法不仅能输出位移、应变等基础参数,还可直接计算泊松比、杨氏模量等材料本构参数,为材料性能评估提供一站式数据支撑。

系统支持多种裂尖定位算法,包括基于裂尖附近位移梯度奇异性的位移梯度法、利用 Williams 级数展开的奇异性特征识别法,以及通过理论位移场匹配的图像匹配法,用户可根据测试需求选择方案。在应力强度因子计算方面,系统集成了 J 积分法、位移关联法等多种成熟算法,其中 J 积分法通过围绕裂尖的闭合路径积分计算能量释放率,再通过转换公式获得应力强度因子,物理意义明确且计算精度高。这些功能为裂纹萌生、扩展机制研究提供了量化数据支撑,广泛应用于航空航天关键构件的疲劳寿命评估。研索光学技术助力材料失效研究,清晰揭示裂纹萌生与扩展的应变分布。

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土木工程桥梁、建筑结构的荷载试验应变监测;混凝土、钢结构的长期变形跟踪;隧道、大坝的位移与应变安全监测。5. 电子电器芯片、电路板在温度循环中的热应变分析;手机、笔记本电脑外壳的抗压 / 抗摔应变测试;电池封装结构的变形监测。散斑制备:DIC 技术需在被测物体表面制作均匀散斑(喷漆 / 贴纸),影响测量精度;环境要求:激光干涉法对振动、温度变化敏感,需在实验室或稳定环境下使用;数据处理:选择自带专业分析软件的设备,减少后期数据处理工作量;校准需求:定期对设备进行校准(如激光干涉仪需每年校准一次),确保数据准确性。研索仪器光学非接触应变测量系统具有亚微米级位移分辨率,应变测量精度达0.005%。北京三维全场非接触测量装置

研索仪器光学非接触应变测量系统无需贴片或预加工,避免接触式传感器对试样的干扰,适用于各种恶劣环境。云南VIC-3D数字图像相关技术总代理

在材料力学性能评估、结构可靠性验证的科研与工业场景中,应变测量始终是关键技术支撑。传统接触式测量依赖应变片、引伸计等器件的物理接触,不仅易干扰测试载荷分布、损伤精密样品,更受限于 "单点采样" 的先天缺陷,难以捕捉复杂结构的全场变形规律。随着制造对测试精度的要求迈入微米级甚至纳米级,光学非接触应变测量技术凭借其独特优势实现跨越式发展。研索仪器科技(上海)有限公司(ACQTEC)深耕该领域十余年,以数字图像相关(DIC)技术为关键,构建起覆盖多尺度、全场景的测量解决方案体系,成为连接国际先进技术与中国产业需求的桥梁。云南VIC-3D数字图像相关技术总代理

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