计算光学成像:突破物理极限的“虚拟透镜”计算光学通过算法优化光路设计,突破传统成像系统的衍射极限与景深限制。结构光照明技术与压缩感知算法的结合,使DIC系统在低光照条件下仍可实现微米级分辨率测量。在半导体封装检测中,计算光学DIC无需移动平台或变焦镜头,即可完成芯片级封装体的全场应变测量,检测效率较传统方法提升30倍。量子传感:纳米级应变的“量子标尺”量子纠缠与squeezedstate技术为应变测量引入了全新物理维度。基于氮-空位(NV)色心的量子传感器,通过检测钻石晶格中电子自旋共振频率变化,可实现单应变分辨率的纳米级测量。在MEMS器件表征中,量子DIC系统可定位微梁弯曲过程中的局部应变集中点,精度达0.1nm,为微纳电子机械系统的可靠性设计提供了前所未有的检测手段。研索仪器光学非接触应变测量系统无需接触样品,避免机械干扰或损伤,适用于脆弱材料(如薄膜、生物组织)。浙江光学非接触式测量装置

ESPI:动态全场测量的先锋ESPI利用激光散斑的随机性作为信息载体,通过双曝光或时间序列干涉图处理,提取变形引起的相位变化。其独特优势在于无需制备光栅或标记点,适用于粗糙表面与动态过程测量。在航空航天领域,ESPI已用于检测飞机蒙皮在气动载荷下的振动模态与疲劳裂纹萌生。云纹干涉术:高灵敏度与高空间分辨率的平衡云纹干涉术通过交叉光栅衍射产生高频云纹条纹,其灵敏度可达亚微米级,空间分辨率优于10线对/毫米。该技术特别适用于金属材料塑性变形、复合材料界面脱粘等微区应变分析。例如,在碳纤维复合材料层压板测试中,云纹干涉术可清晰捕捉层间剪切应变集中现象,为结构优化提供数据支撑。云南高速光学数字图像相关技术变形测量研索科技光学非接触应变测量,高效助力结构力学性能研究。

作为当前主流的技术路径,数字图像相关(DIC)技术的工作流程已形成标准化范式:首先在被测物体表面制备随机散斑图案,这一图案如同 "光学指纹",为后续识别提供特征标记,可通过人工喷涂、光刻或利用材料自然纹理实现;随后采用高分辨率相机阵列同步采集变形前后的图像序列,捕捉每一个微小形变瞬间;通过零均值归一化互相关系数(ZNCC)等算法,追踪散斑在图像中的位移变化,经三维重建计算得到全场位移场与应变场数据。这种技术路径带来三大突破:其一,非接触特性消除了测量器件对测试系统的力学干扰,尤其适用于软材料、微纳结构等易损伤样品的测试;其二,全场测量能力实现了从 "点测量" 到 "面分析" 的跨越,单次测试可获取数百万个数据点,使变形分布可视化成为可能;其三,亚像素级测量精度突破了传统方法的极限,位移测量精度可达 0.01 像素,配合高分辨率相机可实现纳米级形变检测。这些优势让光学非接触测量成为解决复杂力学测试问题的方案。
高校与科研机构是研索仪器的关键用户群体,其产品已成为材料科学、力学工程等领域基础研究的重要工具。在生物材料研究中,Micro-DIC 系统可测量软骨、血管等生物组织在力学载荷下的变形行为,为组织工程支架设计提供参考;在新型功能材料研发中,介观尺度测量系统帮助科研人员揭示材料微观结构与宏观性能的内在关联;在仿生材料研究中,通过对比天然材料与仿生制品的力学响应差异,为高性能仿生材料开发提供指导。研索仪器与上海交大、北航等高校的深度合作,不仅推动了科研成果的产出,更助力了创新人才的培养。研索仪器VIC-3D非接触全场应变测量系统一次性获取全场应变分布,优于单点接触式传感器(如应变片)。

在材料力学性能评估、结构可靠性验证的科研与工业场景中,应变测量始终是关键技术支撑。传统接触式测量依赖应变片、引伸计等器件的物理接触,不仅易干扰测试载荷分布、损伤精密样品,更受限于 "单点采样" 的先天缺陷,难以捕捉复杂结构的全场变形规律。随着制造对测试精度的要求迈入微米级甚至纳米级,光学非接触应变测量技术凭借其独特优势实现跨越式发展。研索仪器科技(上海)有限公司(ACQTEC)深耕该领域十余年,以数字图像相关(DIC)技术为关键,构建起覆盖多尺度、全场景的测量解决方案体系,成为连接国际先进技术与中国产业需求的桥梁。研索仪器科技光学非接触应变测量,非接触式操作,避免对试样产生干扰。福建三维全场非接触式测量装置
研索仪器通过镜头切换实现宏观结构到微观特征(如晶粒)的应变分析。浙江光学非接触式测量装置
光纤干涉术:分布式传感的新范式光纤布拉格光栅(FBG)与法布里-珀罗(FP)干涉仪通过将光栅或腔体结构写入光纤,实现应变与温度的分布式测量。光纤传感器的抗电磁干扰、耐腐蚀与长距离传输特性,使其在桥梁健康监测、油气管道应变评估等场景中具有不可替代性。例如,港珠澳大桥健康监测系统部署了数千个FBG传感器,实时采集结构应变数据,保障大桥长期安全运营。激光散斑技术的本质是利用表面微观粗糙度对激光的散射效应形成随机强度分布,通过分析散斑图案变化反推表面变形。其发展历程可分为全息散斑干涉术、电子散斑干涉术与数字散斑相关法三个阶段。浙江光学非接触式测量装置